ホームブログ短納期開発における効率的テストとテスト期間の短縮および 残存バグ数の高精度予測~小規模デスマーチ・プロジェクトに重点を置いて~短納期開発における効率的テストとテスト期間の短縮および 残存バグ数の高精度予測~小規模デスマーチ・プロジェクトに重点を置いて~ 2014年8月1日 投稿ナビゲーション前の記事← 入門者向けの分析法バリデーション講座~具体的実施方法,結果の算出の仕方,生データのまとめ方~次の記事機械・部品の疲労破壊、破断面の見方および長寿命化技術~破損事故について受講者の個別相談に対応~ →コメントを残す コメントをキャンセルメールアドレスが公開されることはありません。 ※ が付いている欄は必須項目ですコメント ※名前 ※ メール ※ サイト 次回のコメントで使用するためブラウザーに自分の名前、メールアドレス、サイトを保存する。
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